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首页 > 产品中心 > 测量/计量仪器 > 晶圆切割缺陷检测设备
产品详情
晶圆切割缺陷检测设备
参考报价:
面议
品牌:
泰微科技
关注度:
77
样本:
暂无
型号:
晶圆切割缺陷检测设备
产地:
广东
信息完整度:
典型用户:
暂无
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高级会员 第
1
年
名 称:
泰微科技(珠海)有限公司
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产品分类
测量/计量仪器
晶圆平整度检测设备
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晶圆缺陷检测设备
晶圆切割缺陷检测设备
陶瓷基板缺陷检测设备
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产品简介
用于Wafer封装领域的缺陷检测设备,通过高精光学系统,高精度运动控制系统和智能AI算法检测晶圆的表面缺陷及切割缺陷。
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