泰微科技(珠海)有限公司
首页 > 产品中心 > 测量/计量仪器 > 晶圆切割缺陷检测设备
产品详情
晶圆切割缺陷检测设备
晶圆切割缺陷检测设备的图片
参考报价:
面议
品牌:
泰微科技
关注度:
161
样本:
暂无
型号:
晶圆切割缺陷检测设备
产地:
广东
信息完整度:
典型用户:
暂无
索取资料及报价
认证信息
高级会员 第 1
名 称:泰微科技(珠海)有限公司
认 证:工商信息已核实
访问量:1929
手机网站
扫一扫,手机访问更轻松
产品分类
公司品牌
品牌传达企业理念
产品简介

用于Wafer封装领域的缺陷检测设备,通过高精光学系统,高精度运动控制系统和智能AI算法检测晶圆的表面缺陷及切割缺陷。image.png

  • 推荐产品
  • 供应产品
  • 产品分类
我要咨询关闭
  • 类型:*     
  • 姓名:* 
  • 电话:* 
  • 单位:* 
  • Email: 
  •   留言内容:*
  • 让更多商家关注 发送留言